CPO已跨越可行性验证，量产瓶颈转向测试效率与成本控制。关键在于缩短测试时间、提升昂贵光学设备利用率，并解决晶圆级动态光学老化与高功率测试座等缺口。未来数年将是测试架构收敛与量产良率证实的关键期。

CPO已跨越可行性验证，量产瓶颈转向测试效率与成本控制。关键在于缩短测试时间、提升昂贵光学设备利用率，并解决晶圆级动态光学老化与高功率测试座等缺口。未来数年将是测试架构收敛与量产良率证实的关键期。

重点摘要

• 瓶颈转移：技术焦点由光学对准精度转向测试吞吐量，以降低高昂的全检与单颗测试成本。
• 路线并存：晶圆级双面测试与晶粒级光引擎测试两大路线竞争中，架构预计于数年内逐步收敛。
• 资源优化：降低成本的核心在于透过多站点平行测试与共享光学机柜，大幅提升仪器使用率。
• 设备缺口：缺乏兼具动态光学量测能力的晶圆级老化设备，以及高功率光学模组测试座。
• 标准落差：可靠性标准虽逐步建立，但仍缺乏统一的量产测试与可测试性设计(DFT)架构。
• 产业观点：未来竞争重点在于客户认证、量产良率与实际出货，而非单一设备最高精度。

目录

1. Executive Summary
2. TrendForce’s View
   1. ) 量产瓶颈：从光学可行性转向测试吞吐量
   2. ) 测试站架构：Insertion 2/3 是最大路线分歧
   3. ) 设备供应链：真正的整合缺口在 Optical Rack
   4. ) CPO量产挑战：降低测试成本与建立可靠性验证
   5. ) 标准化进展：可靠性有框架，量产测试仍缺标准
   6. ) 结论：未来12个月，关键在量产能力而非单一设备规格

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